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孔径测量

更新时间:2024-10-26

简要描述:

孔径测量,可以用于检定ASME X,XX,XXX级精度的环规,相当于可以检定国内二等环规。 通过一整套完善的量值传递机构可以快速的找到环规的直径拐点,这其中其大作用的是两只消除了摩擦力影响的位移传感器。

孔径测量

这是一台在很多校准实验室采用的标定环规的计量设备,由于其*的设计和可靠的表现至今没有被其他产品代替。可以用于检定ASME X,XX,XXX级精度的环规,相当于可以检定国内二等环规。 通过一整套完善的量值传递机构可以快速的找到环规的直径拐点,这其中其大作用的是两只消除了摩擦力影响的位移传感器。孔径测量这是一台可以测量百万分之内外尺寸的仪器,同时可以用来测量一些高精度的盘类零件。

孔径测量技术描述

  • 测量范围: 内尺寸: 300mm,外尺寸:279mm

  • 重复精度; ±0.025µm

  • 测头量程: ±40µm

  • 示值误差:0.25%量程

  • 测头材料:金刚石

  • 重量:306kg

  • 仪器高度:1422mm

  • 工作台尺寸:279mm x 406mm

  • 占地尺寸:406mm x 508mm

  • 数字输出接口RS232C

  • 电源:230V±10%   50-60Hz

 

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